帶繞組交流測(cè)試分接開(kāi)關(guān)動(dòng)作特性?xún)?yōu)勢(shì)：
模擬變壓器的運(yùn)行狀態(tài)測(cè)試，能可靠發(fā)現(xiàn)分接開(kāi)關(guān)動(dòng)作過(guò)程存在的缺陷。
可對(duì)調(diào)壓繞組不同結(jié)線(xiàn)的變壓器進(jìn)行分接開(kāi)關(guān)測(cè)試，填補(bǔ)變壓器有載分接開(kāi)關(guān)測(cè)試的空白區(qū)域。
交流測(cè)試結(jié)線(xiàn)方式靈活多樣，當(dāng)被測(cè)分接開(kāi)關(guān)交換程序出現(xiàn)異常后，可使用任意電壓，電流進(jìn)行測(cè)試，對(duì)缺陷性質(zhì)進(jìn)行確認(rèn)性試驗(yàn)，不會(huì)發(fā)生誤判斷。
排除分接開(kāi)關(guān)直流測(cè)試中所出現(xiàn)的電流非缺陷原因所造成的斷續(xù)，區(qū)分由于過(guò)渡電阻，開(kāi)關(guān)觸頭引線(xiàn)接觸**所形成的電流跳躍，直接反應(yīng)分接開(kāi)關(guān)動(dòng)作過(guò)程的技術(shù)特性。時(shí)間證明，分接開(kāi)關(guān)在切換過(guò)程中，雖然動(dòng)，靜觸頭間高速相對(duì)運(yùn)動(dòng)，但接觸良好，特別時(shí)在高電壓下，某些低電壓直流試驗(yàn)所表現(xiàn)的分接開(kāi)關(guān)測(cè)試波形變異不是開(kāi)關(guān)缺陷。
交流測(cè)試不僅能準(zhǔn)確判定分接開(kāi)關(guān)交換程序，而且能對(duì)分接開(kāi)關(guān)切換過(guò)程中的各觸頭接觸情況做出判斷。
分接開(kāi)關(guān)交流測(cè)試所獲得的波形解析結(jié)論**，可作為分接開(kāi)關(guān)動(dòng)作特性終裁式試驗(yàn)，為各國(guó)工程技術(shù)界所認(rèn)同。
